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Modellierung Und Charakterisierung Des Elektrischen Verhaltens Von Haftstellen-Basierten Flash-Speicherzellen (Research at Namlab)

4 stars - 5912 reviews / Write a review

Pages: 156

Language: German

Format: Eine elektronische Version eines gedruckten Buches - Unterstützte Lesegerätegruppen: PC/MAC/eReader/Tablet

Publisher: Logos Verlag Berlin (30 Mar. 2011)

By: Thomas Melde(Author)

Im Rahmen dieser Arbeit werden haftstellen-basierte Speicherzellen als mogliche Alternative zum bestehenden Floating-Gate Konzept untersucht. Hierbei wird zunachst mittels Simulation und ausgewahlten Messverfahren das Verstandnis der Funktionsweise vertieft. Der darauffolgende Abschnitt befasst sich mit der Verbesserung der elektrischen Eigenschaften, basierend auf Anderungen der verwendeten Materialien und dem raumlichen Aufbau. Abschliessend erfolgt die Untersuchung der Anwendbarkeit des Zellkonzeptes in hochdichten Zellenfeldern.

Originalfassung in deutscher Sprache von als PDF zum kostenlosen Download findet


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